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    相控阵探伤仪

    时间:2017-04-25 10:30 作者:东正试验仪器 点击:
    销售电话:0317-6010715
    图文传真:0317-6010715
    相控阵探伤仪详细参数
    相控阵探伤仪
    相控阵探伤仪 
    相控阵探伤仪通过软件可以单独控制相控阵探头中每个晶片的激发时间,从而控制产生波束的角度、聚焦位置和焦点尺寸。
    相控阵探伤仪
    常见的探头阵列几何外形如下:
    线形阵
    1.维线形阵
    2.维矩形阵
    圆形阵
    1.维环形阵
    2.维扇形阵
    技术优势编辑
    1.实时彩色成像,包括A/B/C/D和S-扫描,便于缺陷判读,不会误判或漏判缺陷;
    2.相控阵技术可以实现线性扫查、扇形扫查和动态深度聚焦,从而同时具备宽波束和多焦点的特性,因此检测速度可以更快更准;
    3、相控阵具有更高的检测灵活性,可以实现其它常规检测技术所不能实现的功能,如对复杂工件检测;
    4、容易检测各种走向、不同位置的缺陷,缺陷检出率高,检测范围广,定量、定位精度高;
    5、扫查装置简单,便于操作和维护;使用更便捷,对人体无伤害,对环境无污染;
    6、检测结果受人为因素影响小,数据便于储存、管理和调用,以及连接电脑打印查看。也可以直接连接鼠标在仪器上操作。
    7、可以节省许多成本费用,一探头和各角度楔块的多用处,可以自动生成图文缺陷报告,若有内部网路可以直接发送质检报告到数据中心查阅。
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